Инспекционные микроскопы
3 товара
Модель инспекционного микроскопа MX12R оснащена 12- дюймовой рабочей платформой с держателями 4, 6, 8 и 12 дюймов и применяется для инспекции полупроводниковых пластин диаметром до 300мм и плоских дисплеев с диагональю до 17 дюймов. Основные преимущества Схема инспекционного микроскопа MX12R Основные технические характеристики инспекционного микроскопа MX12R Оптическая система скорректированная на бесконечность Режим наблюдения светлое поле […]
Модель инспекционного микроскопа MX68R оснащена держателями 4, 6 и 8 дюймов и применяется для инспекции полупроводниковых пластин диаметром до 200мм и плоских дисплеев с диагональю до 11 дюймов. Габаритный чертёж Основные преимущества Аксессуары для инспекционного микроскопа MX68R ОКУЛЯРЫ С ШИРОКИМ ПОЛЕМ ЗРЕНИЯ ОБЪЕКТИВЫ С БОЛЬШИМ РАБОЧИМ РАССТОЯНИЕМ Доступные объективы Объектив Кратность увеличения Числовая Апертура (N.A.) […]
Модель инспекционного микроскопа MX8R оснащена 8- дюймовой рабочей платформой, а также имеет улучшенный эргономичный дизайн, обеспечивающий быстроту управления, равномерность освещения и высокую чёткость изображения. Основные преимущества Схема инспекционного микроскопа MX8R Аксессуары для инспекционного микроскопа MX8R ОКУЛЯРЫ С ШИРОКИМ ПОЛЕМ ЗРЕНИЯ Объективы с большим рабочим расстоянием Доступные объективы Объектив Кратность увеличения Числовая Апертура (N.A.) Рабочее фокусное […]
Микроскопы для инспекции полупроводниковых изделий
Инспекционные микроскопы используются в ходе производства микроэлектроники для исследования таких компонентов и изделий как кремниевые пластины и кристаллы, микродисплеи, МЭМС- чипы, диодные структуры и т.д. В отличие от микроскопов, применяемых в других сферах, оптические микроскопы для инспекции полупроводников как правило имеют более высокое разрешение и оснащены мощными источниками освещения, что позволяет детализировать изображения самых мелких элементов микроэлектронной базы. Наличие различных настроек объективов инспекционных микроскопов даёт возможность использовать такие методы контрастирования, как светлое и темное поле, поляризованный свет, интерференционно-контрастная микроскопия, флуоресценция, отображение в инфракрасном или ультрафиолетовом диапазоне. Для того, чтобы обеспечить надёжный контроль качества на различных этапах производственного цикла в микроэлектронике необходимо решить следующий круг задач:
- Своевременное выявление дефектов;
- Анализ текстуры поверхностей;
- Оценка состояния паянных соединений;
- Определение свойств опытных образцов.
Всё это невозможно сделать без наличия современных микрооптических систем, обладающих высокой разрешающей способностью и большим диапазоном увеличения, а также сочетающих в себе комплексный подход к измерениям и простоту использования. Именно такие приборы представлены в нашем каталоге.
